郭位

《安全可靠性旗艦期刊 》(IEEE Transactions on Reliability)主編，
中央研究院院士、美國國家工程院院士及中國工程院外籍院士。
他在系統可靠性研究方面享有盛名，為電子早衰期研究的先驅。
目前擔任香港城巿大學校長，之前曾任職美國橡樹嶺國家實驗室
(Oak Ridge National Laboratory)高級管理團隊。